КФ "Микроскоп Плюс" Санкт-Петербург
тел: +7 921 753 91 61
info@microscope-plus.ru




Биологические
микроскопы ⇓

Исследовательские
микроскопы

Поляризационные микроскопы ⇓

Металлографические микроскопы ⇓

Стереомикроскопы ⇓

Инвертированные микроскопы ⇓

Камеры для микроскопии ⇓

Программы анализа изображений ⇓

Иммерсионная смесь ⇓

Лампы для осветителей микроскопов ⇓

Люминесцентные светофильтры ⇓

ИНВЕРТИРОВАННЫЙ МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЙ МИКРОСКОП
AXIO VERT.A1 MAT


Металлографический микроскоп Axio Vert.A1 MAT

Производитель: Carl Zeiss Microscopy GmbH, Германия.

Основные особенности:

  • большой выбор методов контрастирования и 4-позиционная турель для светоделительных элементов: светлое поле, темное поле, DIC, C-DIC, поляризация
  • возможность установки осветителя проходящего света
  • эргономичность
  • большой выбор объективов
Возможные варианты комплектации микроскопа AXIO VERT.A1 MAT:
  • осветитель отраженного света ⇓
    • галогенная лампа: 12В 100Вт (HAL 100)
    • светодиод: 20Вт (VIS-LED)
  • предметный столик ⇓
    • механический предметный столик 40х40мм (Mechanical stage 40x40, reflected light)
    • металлическая вставка диаметром 115мм с отверстием диаметром 10мм (Stage insert, metal; D=115 mm, aperture d=10 mm)
    • металлическая вставка диаметром 115мм с отверстием диаметром 20мм (Stage insert, metal; D=115 mm, aperture d=20 mm)
    • металлическая вставка диаметром 115мм с отверстием диаметром 30мм (Stage insert, metal; D=115 mm, aperture d=30 mm)
    • скользящий предметный столик
    • сканирующий предметный столик 130х85
  • наблюдение ⇓
    • бинокулярная насадка с углом наклона 45 °
    • эргономичная бинокулярная насадка с изменяемым углом наклона 30-60 °
    • бинокулярная насадка с углом наклона 45 °, видеовыход с делением светового потока 50/50
    • бинокулярная насадка с углом наклона 45 °, видеовыход с левой стороны с делением светового потока 50/50
    • промежуточная насадка с видеовыходом, высота 50мм, деление светового потока 100:0 или 50:50
  • окуляры ⇓
    • 10х с линейным полем 23мм с диоптрийной настройкой (Eyepiece PL 10x/23 Br. foc.)
    • 16х с линейным полем 16мм с диоптрийной настройкой (Eyepiece PL 16x/16 Br. foc.)
    • окулярные микрометры
  • светоделительные элементы ⇓
    • турель для установки 4 светоделительных элементов
    • блок для реализации светлого поля в отраженном свете (Reflector module brightfield ACR P&C for reflected light)
    • блок для реализации темного поля в отраженном свете (Reflector module darkfield ACR P&C for reflected light)
    • блок DIC для реализации дифференциально-интерференционного контраста в отраженном свете (Reflector module DIC/Pol ACR P&C for reflected light)
    • блок DIC для реализации дифференциально-интерференционного контраста в отраженном свете с λ (Reflector module DIC/Pol red I Lambda ACR P&C for reflected light)
    • блок C-DICдля реализации метода кругового дифференциально-интерференционного контраста (Reflector module C-DIC/TIC ACR P&C for reflected light)
    • блок для реализации поляризации в отраженном свете (Reflector module polarizer ACR P&C for reflected light)
  • поляризация ⇓
    • блок для реализации поляризации в отраженном свете (Reflector module polarizer ACR P&C for reflected light)
    • поляризатор в слайдере, поворачиваемый на 90 ° (Polarizer slider A 6x30 mm, rotatable)
    • анализатор в слайдере, поворачиваемый на 90 ° со слотом для компенсаторов (Analyzer slider A 12x35 mm, rotatable)
    • компенсатор λ +/- 10 ° (Compensator pol Lambda sub. +/- 10)
    • компенсатор λ (Compensator Lambda)
  • дифференциально-интерференционный
    контраст (DIC и C-DIC) ⇓
    • ДИК-слайдер для объективов Epiplan 5х, 10х и 20х (DIC slider EC EP 5x/0.13, 10x/0.2, 20x/0.4 Epi+)
    • ДИК-слайдер для объектива Epiplan 50х (DIC slider EC EP 50x/0.7 Epi+)
    • ДИК-слайдер для объектива Epiplan 100х (DIC slider EC EP 100x/0.8 Epi+)
    • ДИК-слайдер для объективов Epiplan-Neofluar 5х, 10х и 20х (DIC slider EC EPN 5x/0.13 / 10x/0.25 / 20x/0.50)
    • ДИК-слайдер для объективов Epiplan-Neofluar 50х и 100х (DIC slider EC EPN 100x/0.90/50x/0.80 HC/LD EC EPN 100x/0.75)
    • C-ДИК-слайдер для объективов Epiplan-Neofluar 5х-20x Epiplan 5x-100х (C-DIC slider 6x20 for EC EPN 5x-20x/LD EC EPN 20x-50x/EC EP 5x-100x)
    • C-ДИК-слайдер для объективов Epiplan-Neofluar 50х-100x (C-DIC slider 6x20 for EC EPN 50x-100x/LD EC EPN 100x)
  • револьверное устройство для установки 5 объективов (3 позиции под DIC-слайдеры)
  • объективы ⇓
    • безрефлексные планахроматы для работы по методу светлого поля, поляризации, DIC и C-DIC
      • EC Epiplan 5x/0.13 M27 (WD=16.1mm)
      • EC Epiplan 10x/0.25 M27 (WD=11.0mm)
      • EC Epiplan 20x/0.4 M27 (WD=3.2mm)
      • EC Epiplan 50x/0.75 M27 (WD=1.0mm)
      • EC Epiplan 100x/0.8 M27 (WD=1.0mm)
    • безрефлексные планахроматы для работы по методу светлого поля, темного поля, поляризации, DIC и C-DIC
      • EC Epiplan 5x/0.13 HD M27 (WD=11.8mm)
      • EC Epiplan 10x/0.25 HD M27 (WD=11.0mm)
      • EC Epiplan 20x/0.4 HD M27 (WD=3.2mm)
      • EC Epiplan 40x/0.6 HD M27 (WD=2.2mm)
      • EC Epiplan 50x/0.75 HD M27 (WD=1.0mm)
      • EC Epiplan 100x/0.85 HD M27 (WD=0.87mm)
    • безрефлексные планполуапохроматы повышенного разрешения и контраста для работы по методам светлого и темного поля, поляризации
      • EC Epiplan-Neofluar 5x/0.13 HD M27 (WD=14.5mm)
      • EC Epiplan-Neofluar 10x/0.25 HD M27 (WD=9mm)
      • EC Epiplan-Neofluar 20x/0.50 HD M27 (WD=2.2mm)
      • EC Epiplan-Neofluar 50x/0.8 HD M27 (WD=0.60mm)
      • EC Epiplan-Neofluar 100x/0.90 HD M27 (WD=0.28mm)
    • безрефлексные планполуапохроматы повышенного разрешения и контраста для работы по методам светлого и темного поля, поляризации, DIC и C-DIC
      • EC Epiplan-Neofluar 5x/0.13 HD DIC M27 (WD=14.5mm)
      • EC Epiplan-Neofluar 10x/0.25 HD DIC M27 (WD=9.0mm)
      • EC Epiplan-Neofluar 20x/0.50 HD DIC M27 (WD=2.2mm)
      • EC Epiplan-Neofluar 50x/0.8 HD DIC M27 (WD=0.60mm)
      • EC Epiplan-Neofluar 100x/0.90 HD DIC M27 (WD=0.28mm)
  • адаптер для установки камеры ⇓
    • оптический адаптер C-mount 60N-C 0.5x
    • оптический адаптер C-mount 60N-C 0.63x
    • адаптер C-mount 60N-C 1x
    • составной адаптер для зеркального цифрового фотоаппарата, например Canon 1000D
  • дополнительные принадлежности ⇓
    • осветитель проходящего света с возможностью реализации светлого поля, фазового контраста и поляризации

Цена на микроскоп AXIO VERT.A1 MAT зависит от его комплектации.


другие металлографические микроскопы Zeiss ⇓

камера для установки
на микроскоп AXIO VERT.A1 MAT ⇓

  • PROGRES SUBRA - 2 мегапикселя, CMOS, цветная
  • PROGRES ARKTUR - 8 мегапикселей, CMOS, USB 3.0
  • AXIOCAM 503 - 2.8 мегапикселей, CCD, цветная или монохромная


Инвертированный микроскоп отраженного света Axio Vert.A1 MAT с монохромной камерой QICAM

Примеры изображений микроструктур

Эта страница может некорректно отображаться в браузере Internet Explorer.

Axio Vert.A1 is a compact, inverted microscope that brings you big insights into your objectives. You can examine large, heavy samples, using all the latest contrast methods without compromise. Or you might decide instead to increase your insights by combining several contrast methods. Contrast Methods for All Details. At a single stroke you switch between brightfield, darkfield, DIC, C-DIC, fluorescence and polarization contrast in reflected light. In transmitted light, use brightfield, polarization and phase contrast. Fast Imaging with a Wide Range of Objectives. You will be using a 5x encoded nosepiece turret as well as a light manager to capture light intensity and objective exchange automatically. That means you can quantify your structure efficiently, evaluate the properties and quality of your materials, and then take appropriate measures. Reproducible Measuring and Comparing. With 23 field of view you can understand most of your sample from first sight. Having grain-measuring reticles equips you very well for instant measurements. You also have AxioVision Software by Carl Zeiss for a powerful range of modules such as grain size, phase analysis, layer thickness and interactive measurement for your investigations.