Краткий словарь по методам исследования

СЛОВАРЬ ПО МЕТОДАМ ИССЛЕДОВАНИЯ к методам исследования относятся основные способы получения изображения, в которых происходит стандартное освещение объекта, в результате которого выявляются объекты, в т.ч. и их свойства. К таковым относятся: проходящий свет светлое поле; отраженный свет светлое поле

Осветительные системы – система линз, диафрагм и зеркала (при необходимости), обеспечивающая равномерное освещение объекта и полное заполнение апертуры объектива. Осветительная система состоит из следующих элементов:

источник света - это источник электро-магнитных колебаний естественный (солнце) или искусственный (потолочный светильник, настольная лампа, специальные осветители для микроскопа);
коллектор - это оптическая система, с помощью которой светящееся тело источника света (солнечный зайчик, нить лампы) проектируется в плоскость апертурной диафрагмы конденсора, при этом светящееся тело (нить лампы) может быть увеличено до размера диафрагмы;
конденсор - это оптическая система, проектирует полевую диафрагму коллектора в плоскость предмета.

ОсветительныеОсвещение принципы – последовательность построения элементов осветительной системы, позволяющие получить качественное освещение плоскости предмета. Различаются два принципа построения – критическое освещение и освещение по Келеру.
Освещение критическое - равномерно яркий источник света располагается непосредственно за полевой диафрагмой и с помощью конденсора изображается на плоскости предмета. Размер полевой диафрагмы подбирается так, чтобы ее изображение, точно было ограничено полем зрения окуляра (при малом увеличении объектива).
Освещение по Келеру - собирающая линза (коллектор) располагается рядом с полевой диафрагмой и образует изображение источника света в фокальной плоскости конденсора (где расположена апертурная диафрагма конденсора). В этом случае лучи, исходящие из каждой точки источника света, после прохождения конденсора образуют параллельные пучки. Преимущество такого принципа заключается в том, что неравномерность в распределении яркости по источнику света (нити накала галогенной лампы или светящегося тела ламп высокого напряжения) не вызывает неравномерности освещенности в плоскостях предмета и изображения микроскопа.