С января 2012 года открыта новая программа тренингов - 3-дневный мастер класс по практике работы со световыми микроскопами и с системами анализа изображений. Основная цель курсов: дать краткую теоретическую основу и практические навыки работы со световыми микроскопами, настройки различных методов контрастирования, выбора режимов работы системы ввода для получения качественных изображений различны объектов при разных условиях съемки с разными методами контрастирования. Основы обработки изображений в программах анализа изображений. Планируется запустить две немного отличающиеся друг от друга программы:

Программа А. "Современные методы контрастирования световой микроскопии". Основные обсуждаемые темы:

1. Классификация световых микроскопов. Виды и типы. Отличительные особенности микроскопов разных фирм-производителей.
2. Методы исследования и контрастирования. Основные принципы.
3. Практические навыки : настройка микроскопа и методов контрастирования.
4. Основные формулы и стандарты микроскопии.
5. Цифровая микроскопия.

Программа Б. "Световая микроскопия и компьютерный анализ изображений"

1. Методы исследования и контрастирования в микроскопии. Основные принципы. Приемы настройки.
2. Общие сведения о принципах получения изображений, обзор типов существующих камер и их классификация.
3. Основные технические параметры камер.
4. Принципы настройки камер для получения качественного изображения объекта.
5. Основные принципы обработки изображений в программах анализа изображений.
6. Практические навыки : калибровка систем анализа изображений; первичная обработка изображений; выделение объектов; измерения на изображениях в ручном и автоматическом режимах.
7. Роль микроскопа в системе анализа изображения. Основные ошибки настроек САИ.

Место проведения: г. Санкт-Петербург, Загородный пр. 37/70 (м. Пушкинская). Заявка на участие

Предварительные даты проведения мастер-классов: