Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля.

Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Рассмотрены рентгеновские методы анализа, физические основой оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга является переводом научного труда «Microstructural Characterization of Materials» 1999 года издания.

Представляет интерес не столько для практиков, сколько для тех, кто углубленно, со знанием математики и физики, занимается материаловедением.

Рекомендуем книгу студентам, аспирантам, научным сотрудникам, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.